IXplore IX85 Spin 是一款集高速、高分辨率與穩定性能于一體的全電動倒置顯微鏡系統,專為復雜材料和精密結構的動態觀測而設計。該系統搭載 Yokogawa CSU-W1 轉盤共聚焦單元,能夠在長時間觀測中實現快速3D圖像采集,同時有效降低激發過程中的信號衰減和環境干擾。

高速3D成像與Z軸穩定性
IXplore IX85 Spin 通過其先進的轉盤共聚焦技術,支持在寬視場下進行高效三維數據采集,特別適用于連續動態過程的高精度記錄。TruFocus Z漂移補償系統確保在長時間運行中每一幀圖像的清晰度,避免因位置偏移導致的數據失真,從而提升整體成像的準確性和重復性。
系統配備 X Line光學組件,優化了光信號的收集效率,進一步增強圖像對比度和細節還原能力。此外,新型 LUPLAPO25XS 多層介質物鏡結合自動校正技術,實現了更高的數值孔徑與長工作距離,使用戶能夠深入探測復雜樣本內部結構,如多層薄膜、微流控芯片等。
清晰圖像與深度解析能力
借助 TruSight 圖像優化算法,IXplore IX85 Spin 在大深度范圍內依然能提供高質量的三維圖像。Yokogawa 轉盤裝置獨特的針孔排列設計有效抑制背景干擾,提高圖像清晰度,尤其適用于多通道信號同步采集和拼接處理。
多通道同步成像與擴展性
IXplore IX85 Spin 支持多波長光源配置,激光模塊可從兩條擴展至六條(包括405 nm、445 nm、488 nm、514 nm、561 nm 和 640 nm),并兼容多傳感器協同工作,滿足高速、多參數信息同步采集的需求,適用于復雜系統的實時監測。
作為 IXplore IX85 顯微鏡系統的升級版本,IXplore IX85 Spin 提供更廣視野、更快采集速度及更高圖像質量,是先進材料研究、微納加工檢測以及工業分析中不可或缺的成像平臺。無論是微觀結構演化、表面形貌追蹤,還是復合材料內部特征識別,IXplore IX85 Spin 均能提供穩定高效的解決方案。
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