在微觀結構研究領域,全內反射熒光(TIRF)成像技術已成為觀察表面附近物質動態的重要工具。IXplore TIRF 是一款專為高靈敏度、多色TIRF成像設計的全電動倒置顯微鏡系統,廣泛適用于表面動力學分析、單點檢測以及共定位實驗等復雜應用。

高效的同步多色TIRF成像能力
IXplore TIRF 系統支持多達四種激光波長的同步采集,顯著提高了多重標記樣本的成像效率和數據準確性。其核心組件——奧林巴斯cellTIRF技術,通過獨立電動控制每束激光的入射角度,確保各波長產生相同的倏逝波穿透深度(±1 nm),從而實現高對比度、低背景噪聲的圖像質量。此外,系統集成的點FRAP光學模塊可無縫切換至光漂白恢復(FRAP)或光轉換實驗模式,無需額外硬件投入,提升了實驗靈活性。
極致穩定的成像平臺
為了保障長時間延時成像的穩定性,IXplore TIRF 采用高強度機械結構與高精度聚焦驅動器設計,有效抑制外界振動及溫度波動的影響。配合TruFocus自動對焦系統,即使在多點、長時間拍攝過程中,也能保持Z軸焦點的精準穩定,確保圖像的一致性和可靠性。
高性能TIRF專用物鏡
該系統配備一系列專為TIRF優化的高數值孔徑(NA)物鏡,包括高達1.7 NA的業界領先型號(截至2018年)。這些物鏡具備校正環功能,能夠適應不同厚度蓋玻片及溫度條件,提供信噪比(SNR)和大視野下的均勻照明。平場復消色差設計進一步保證了圖像的清晰度和色彩還原性。
智能化實驗控制與操作體驗
借助圖形化實驗管理器(GEM)、cellFRAP光操控模塊和實時控制器(U-RTCE),用戶可輕松構建復雜的多步驟實驗流程。系統支持微秒級快速響應控制,如濾光輪切換、光源調制和光刺激觸發,有助于減少光漂白和光毒性效應,延長活體成像時間并提升數據質量。
應用廣泛,科研成果豐碩
IXplore TIRF 已被廣泛應用于多個前沿領域,涵蓋材料融合機制、界面接觸位點形成、納米尺度成分互作圖譜構建等多個方向。眾多國際知名期刊的研究成果均基于該系統完成,驗證了其在科學研究領域的可靠性和實用性。
IXplore TIRF 憑借其出色的多色成像性能、穩定的系統架構、高NA專用物鏡及智能化控制方案,成為當前TIRF成像系統的典范,是推動科學研究發現的理想選擇。
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